学术动态
国际半导体照明LED标准和测量技术交流会
2010年9月24日，国际半导体照明LED标准和测量技术交流会在浙江大学召开。国际照明委员会CIE第二分部部长、美国国家标准与技术研究院NIST光度测量负责人Dr.Yoshi Ohno在会上做了题为“Development of Standardization and Measurement of SSL Products in USA and CIE”的报告。美国NIST客座研究员、浙江大学光电系牟同升副教授作了题为“Development of Photobiological Safety-related standards and Measurements for LED Products”的报告。