仪器设备

场发射扫描电子显微镜(SEM)

具有ESB SE INLENS三种探测器 最大可以放大达到42万倍

:0571-87952182 周老师

仪器名称:场发射扫描电子显微镜(SEM)
规格:具有ESB SE INLENS三种探测器 最大可以放大达到42万倍
用途:材料表面形貌测试
说明:

扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观扫描电子显微镜 察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是,①有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;③试样制备简单。 目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析。


仪器中

文名称

场发射扫描电子显微镜

仪器英

文名称

SEM

仪器别名

电镜

型号规格

ULTRA55

生产厂商

CARL ZEISS

国别

(公司注册地)

德国