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仪器名称:扫描电子显微镜(SEM)
规格:ULTRA55
用途:仪器中文名称:扫描显微镜 仪器英文名称:SEM 仪器别名:电镜 型号规格:ULTRA55 生产厂商:CARL ZEISS 国别(公司注册地):德国 功能:用于纳米及亚微米等材料测试 技术指标:1nm@15kv 1.7nm @1kv 4nm@0.1kv 加速电压:0.02kv--30kv 探针电流:4pA--20A 放大倍数:12x--420000x
说明:

功能:扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观扫描电子显微镜 察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是,①有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;③试样制备简单。 目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力,尤其是采用最新数字化图像处理技术,提供高倍数、高分辨扫描图像,并能即时打印或存盘输出,是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效仪器。也是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。 
 

仪器存放地点:浙大玉泉校区教三128室

联系电话:0571-87953365 周老师

 



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